Automātiskais testa aprīkojums veic sarežģītas pārbaudes iespiedshēmas plates, integrētās shēmas un citas elektroniskās ierīces. Pārbaude parasti notiek ražošanas vidē, kur svarīga ir automatizēta, samērā ātrdarbīga pārbaude. Automātiskās pārbaudes iekārtās var izmantot dažādas metodes, ieskaitot funkcionālās shēmas pārbaudi, optisko pārbaudi un rentgena pārbaudi. Pusvadītāju ražotāji to bieži izmanto, lai pārbaudītu mikroprocesorus, atmiņas mikroshēmas un analogās integrētās shēmas. Automatizēto testa aprīkojumu izmanto arī elektronikas ražotāji, lai pārbaudītu shēmu plates, avionikas sistēmu un elektronisko komponentu pareizu darbību.
Automātiska testa aprīkojuma ierīce var būt diezgan vienkārša, veicot tikai dažus pārbaudāmās daļas sprieguma un strāvas mērījumus. Citas sistēmas ir ļoti sarežģītas, tās veic desmitiem funkcionālu un parametru testu ar dažādiem testa instrumentiem. Daži var atšķirties arī testējamās daļas fiziskajā vidē. Piemēram, ierīci var pārbaudīt kameras iekšpusē, kas datora kontrolē tiek pakļauta ārkārtīgi karstumam vai aukstumam. Atkarībā no ierīces veida pārbaude var būt saistīta arī ar gaismas, skaņas vai spiediena diapazona iedarbību.
